Follow
Andrey Odrinsky
Andrey Odrinsky
Institute Technical acoustics NAS of Belarus
Verified email at itanas.by
Title
Cited by
Cited by
Year
Identification of intrinsic deep level defects responsible for electret behavior in TlGaSe 2 layered semiconductor
MHY Seyidov, FA Mikailzade, T Uzun, AP Odrinsky, E Yakar, VB Aliyeva, ...
Physica B: Condensed Matter 483, 82-89, 2016
192016
Carrier trapping and recombination in TlGaSe2 layered crystals
V Grivickas, A Odrinski, V Bikbajevas, K Gulbinas
physica status solidi (b) 250 (1), 160-168, 2013
182013
Photoinduced Current Transient Spectroscopy of TlInS2 Layered Crystals Doped with Er, B, and Tb Impurities
MHY Seyidov, RA Suleymanov, AP Odrinsky, AI Nadjafov, TG Mammadov, ...
Japanese Journal of Applied Physics 50 (5), 05FC08, 2011
182011
Characterization of deep level defects and thermally stimulated depolarization phenomena in La-doped TlInS2 layered semiconductor
MHY Seyidov, RA Suleymanov, FA Mikailzade, EO Kargın, AP Odrinsky
Journal of Applied Physics 117 (22), 224104, 2015
172015
Pyroelectric properties and structural defects of a layered TlInS2 crystal doped with lanthanum
MHY Seyidov, AP Odrinskii, RA Suleymanov, E Acar, TG Mammadov, ...
Physics of the Solid State 56 (10), 2028-2034, 2014
142014
Photoelectric activity of structural defects of a single crystal of the ferroelectric-semiconductor TlInS2: La
AP Odrinskii, TG Mammadov, MHY Seyidov, VB Alieva
Physics of the Solid State 56 (8), 1605-1609, 2014
132014
A critical analysis of investigation of deep levels in high-resistivity CdS single crystals by photoelectric transient spectroscopy
AP Odrinskii
Semiconductors 38 (3), 298-303, 2004
122004
Contactless Spectroscopy of deep levels in semiconducting materials: GaAs
I Davydov, O Ivanov, D Svircov, G Georgiev, A Odrinsky, V Pustovoit
Spectroscopy Letters 27 (10), 1281-1288, 1994
121994
Определение концентрации глубоких уровней в полуизолирующих монокристаллах CdS методом фотоэлектрической нестационарной спектроскопии
АП Одринский
Физика и техника полупроводников 39 (6), 660-666, 2005
112005
Фотоэлектрическая активность структурных дефектов монокристалла сегнетоэлектрика-полупроводника TlInS2: La.
АП Одринский, ТГ Мамедов, MHY Seyidov, ВБ Алиева
Физика твердого тела 56 (8), 1554-1558, 2014
92014
Разработка экспериментальной методики релаксационной спектроскопии фотоиндуцированных токов
ИА Давыдов, АП Одринский
РЖ: Электроника 11, 4, 1990
91990
Photoelectric activity of defects in La-doped layered TlInS2 crystals
MHY Seyidov, RA Suleymanov, E Acar, AP Odrinsky, TG Mammadov, ...
Low Temperature Physics 40 (9), 830-836, 2014
72014
Photo-induced current transient spectroscopy of the ferroelectric-semiconductor TlGaSe2
AP Odrinskii
Physics of the Solid State 56 (2), 335-340, 2014
72014
Пироэлектрические свойства и дефекты структуры слоистого кристалла TlInS2, легированного лантаном
MHY Seyidov, АП Одринский, RA Suleymanov, E Acar, ТГ Мамедов, ...
Физика твердого тела 56 (10), 1964-1969, 2014
72014
Параметрический резонанс и фотогальванические токи в слоистом кристалле TlGaSe
АП Одринский, ТГ Мамедов, ВБ Алиева
Физика твердого тела 59 (3), 447-452, 2017
62017
Effect of deep native defects on ultrasound propagation in TlInS 2 layered crystal
MHY Seyidov, RA Suleymanov, AP Odrinsky, C Kırbaş
Physica B: Condensed Matter 497, 86-92, 2016
62016
Фотоэлектрическая релаксационная спектроскопия сегнетоэлектрика− полупроводника TlGaSe2
АП Одринский
Физика твердого тела 56 (2), 331-336, 2014
62014
Photovoltaic currents and activity of structural defects in a ferroelectric–semiconductor TlInS2: La single crystal
AP Odrinskii, MHY Seyidov, RA Suleymanov, TG Mammadov, VB Aliyeva
Physics of the Solid State 58 (4), 716-722, 2016
52016
Investigation of defects in Cu (In, Ga)(S, Se) 2 films using the photocurrent decay technique
A Saad, A Odrinski, M Tivanov, N Drozdov, A Fedotov, V Gremenok, ...
Journal of Materials Science: Materials in Electronics 19 (1), 371-374, 2008
52008
Аппаратно-программный комплекс для исследования высокоомных полупроводников методом фотоэлектрической нестационарной спектроскопии
АП Одринский
Матер. V-й Междунар. конф.«Проблемы проектирования и производства …, 2008
52008
The system can't perform the operation now. Try again later.
Articles 1–20